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来源:化合物半导体市场发布时间:2023-01-126688浏览
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Source:中电科风华半导体制造工艺十分复杂,稍有差错都可能影响芯片功效。半导体检测贯穿半导体设计、晶圆制造、封装三大流程,有效的检测可以提高良率、控制成本。
Mars 4410 是碳化硅器件产线中的关键装备,用于对碳化硅衬底片、外延片、腐蚀片的缺陷检测。设计团队经过两年不懈努力,攻克了激光散射、显微成像等光学检测核心关键技术。

Source:中电科风华
设备采用差分干涉相衬、光致发光、暗场等多种检测手段,晶圆检测可与数据分析并行处理,晶圆缺陷可与器件失效相关联,具有低噪声和高分辨率成像、高检测通量、高检出率和准确性等优势,能满足提升 SiC 器件良率的需求。
中电科风华成立于1998年,注册在山西转型综合改革示范区,隶属于中国十大央企军工集团—— 中国电子科技集团有限公司,是中国电科半导体装备领域核心成员单位,是首批国家级创新型企业,国家级“专精特新”小巨人企业,国家第三代半导体技术创新中心(山西)共建单位。
公司与浙江大学、之江实验室、海康机器人开展产学研用深入合作,在半导体、高端装备、电子信息等领域承担了30余项国家级、省部级科技创新项目。产品布局分为半导体显示、半导体检测、光伏新能源、汽车电子、微电子等五大专用生产设备板块。(文:化合物半导体市场 Cecilia整理)

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