IEEE公布新JTAG标准，全产业链统一格式

IEEE公布了更新版的 IEEE 1149.1-2013 「测试存取埠与边界扫描架构标准(Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)」，也就是由产业界熟知的 JTAG (Joint Test Action Group) 所负责管辖的标准；新版标准旨在藉由透过利用独立于各家供应商、阶层式的测试语言(hierarchical test languages)，实现横跨整个IC生命周期阶段的测试重复使用(test re-use)，为电子产业界大幅降低成本。