中科院团队开发新技术：实现纳米金属晶界三维透视

近日，据“中科院之声”报道，中国科学院金属研究所团队成功研发出一种名为DFET-Nano的暗场电子层析成像新方法。该技术能够对纳米金属晶界进行三维“透视”，类似于为纳米晶粒进行CT扫描。

研究团队通过透射电子显微镜，从多个角度拍摄了大量纳米晶粒的暗场像照片，并借助复杂的重构算法，将这些二维图像合成为高精度的三维立体模型。目前，这项技术的空间分辨率已达到0.3纳米，不仅能够还原晶粒的外形，还可以同步解析其晶体学取向。研究人员不仅能清晰观察晶粒的外观，还能获取晶界的结构特征，从而精确计算晶面指数和曲率。这些三维数据为理论物理学家提出的“受限晶体结构”特征提供了首次实验验证。

这项技术为纳米材料的研究打开了一扇新窗口。科学家可以借助它在三维空间中直接观察和测量晶界变化，进一步揭示纳米金属的稳定性机制，为设计更高性能的纳米材料提供了重要的表征手段。