爱德万Wave Scale RF20ex测试卡，满足宽频应用的测试需求

半导体测试设备领先供应商爱德万测试于近日发布了V93000 EXA Scale平台的Wave Scale RF20ex测试卡。

这款测试卡可为几乎任何射频装置提供测试，覆盖100MHz至20GHz带宽，满足Wi-Fi 7、UWB等宽频应用的测试需求。

Wave Scale RF20ex测试卡不仅每张板卡RF端口数量翻倍，还具备领先的2GHz带宽能力，为未来的频率和带宽需求做好了准备。在UWB应用方面，它提升了ATE的测试效率，降低了测试成本。

爱德万测试V93000产品部门执行官Ralf Stoffels表示，Wave Scale RF20ex测试卡的初衷是为RF ATE提供最顶尖的元件，实现最佳操作效率。

它简化了配置，涵盖整体RF市场，并具备内建功能以应对未来Wi-Fi 8及6G元件时代。

Wave Scale RF20ex测试卡具备多项特色与优点，如每卡64个双向端口、全端口100MHz至20GHz覆盖范围以及2GHz瞬间带宽等。目前，该测试卡已获许多客户采用，并将于2024年12月全面上市。