电源控制芯片中的过流保护设计

　　1 引言

　　家电、便携电子设备和手持电器的迅猛发展，已使电源适配器芯片成为集成电路的大宗产品类。由于该类芯片中内嵌集成或需要外部连接功率LDMOS 管，应用中的LDMOS 管又需要直接和高压相联接并通过大电流（目前的LDMOS 管已经能耐受数百乃至近千伏的高压）。因此，如何保障芯片和LDMOS 管的安全工作是芯片设计的重点之一。

　　利用片上二极管正向压降的负温度特性来监测芯片的热状态，进而控制功率LDMOS 管的开关是一种可行的安全设计方法。但是由于硅片存在热惰性，故不能做到即时控制。该方法更适宜作安全设计的第二道防线。

　　从芯片设计看，要确保适配器芯片使用的安全性，比较好的方法应该是直接监测流经LDMOS 管的大电流或LDMOS 管的漏极电压，以实时监控芯片的工作状态。一般采取两种方案：（一）在功率MOS 管源端对地串联一个小电阻用于检测源极电流，如图1（a）所示；（二）是通过检测电路监控LDMOS 的漏端电压，如图1（b）所示。前一种方案至少有以下缺点：（1）由于工艺存在离散性，电阻值很难做到精确（误差在20%左右）；（2）源极串入电阻后，使原本导通电阻很大的LDMOS 管的管压降进一步增大，功率处理能力变弱；（3）电阻上流过大电流，消耗了不必要的能量，降低了开关电源的转换效率。

图1（a）串联电阻检测电流图1（b）直接检测漏端电压

　　而采用后一种方案，因为利用了集成电路的特点（电压采样电路的电阻比精度很容易做到1%），电路处理并不太复杂。重要的是LDMOS 管没有源极串联电阻，可减少能量损耗，不影响LDMOS 管的功率处理能力，提高了电源转换效率。

　　直接检测漏端电压判断LDMOS 是否过流的设计思想是在LDMOS 管导通时，通过采样电路检测LDMOS 漏端电压，经比较，过流比较器输出一个低电平过流信号以关闭LDMOS 管；而在LDMOS 管截止期间，采样电路不工作，同时为了提高可靠性将比较器窗口电平适度拉高。

　　图2 是实现上述功能的电路框架图，由过流比较模块、控制逻辑等组成。

图2 过流保护电路框架

　　2 电路设计

　　2.1 过流比较模块

　　过流比较模块主要由前沿消隐Leadedge、采样电路Sample、比较电压产生器ToCompare 和过流比较器Comparator 等组成，如图3 所示。

　　前沿消隐电路由于存在片上寄生或外接电容和电感的影响，在LDMOS 管开启的瞬间，会在LDMOS 管漏极输出端出现尖峰电压，可能造成过流误判。必须增设前沿消隐电路，即对LDMOS 管栅控电压产生一个时间延迟，使在LDMOS 管开启的瞬间将过流比较器闭锁，等到尖峰通过后，再对LDMOS 管漏极信号进行采样测量和过流判断，从而消除漏电压尖峰的影响。如图3 所示，我们在其中加入一个偏置在固定电压V（BIASN）的NMOS 管，它相当于一个固定电流源，以限制电容放电的时间。

图3 过流比较模块电路图

　　合理设计相关的器件参数可以控制延迟时间的大小。

　　采样电路用开关控制电路实现对LDMOS 漏端的周期性电压采样，其中分压电路可采用大阻值有比电路结构。根据集成电路的特点，电阻比值的误差很容易被控制在1%范围之内。

　　当LDMOS 的栅电压V （GATE） 为高，即LDMOS 管导通时，使图3 中的采样开关管M10（具有较高耐压和较低导通电阻特性）也导通，同时开始采集LDMOS 管的饱和漏极电压；而当LDMOS 管的栅电压V（GATE）为低，即LDMOS 管关闭时（非过流现象），采样电路则不工作。

　　比较电压产生器的电路工作原理如下：由于过流状态只发生在功率LDMOS 管栅极为高电平状态。故当V（GATEDelayed）为低电平时，I1、I2和I3将同时对电容Ccompare充电， 使比较电压V（Compare） 值升高。考虑到采样电压最大值为2.5V，为避免误操作，可设置比较电压值为2.7 V，以使后继比较电路工作的门限电平增加，提高抗干扰能力；与此同时，采样电容Csample将通过电阻R2快速放电，使采样电压V（Sample）快速变为零，即相应输出为非过流状态。

　　而当栅极电压V（GATEDelayed）为高电平时，输出比较电压则变为V（Compare）=I1×R3=1.0 V。

　　过流比较器过流比较器采用常见的NPN 差分对管的输入方式，恒流源偏置。与传统恒流源偏置略有不同的是在偏置电路中增加了MOS 开关，当V（GATE）为高时（此时LDMOS 和该MOS 开关同时导通），电路图左侧恒流源工作，使总偏置电流变大，输出缓冲级的驱动电流增大，比较电路速度加快；在V（GATE）为低时，左侧的恒流源不工作，总偏置电流变小（此时LDMOS 不导通，过流比较器处于闲置状态），为节能模式。

　　2.2 控制逻辑

　　控制逻辑模块如图4 所示，该模块直接控制LDMOS 的开关。PULSE 信号的上升沿对应是CLOCK 时钟的开始，PULSE 信号与时钟CLOCK 的关系如图9 所示。当发生过流时，OVERCURRENT信号为低，触发器R 端为高，Q 为低，GateSwitch 信号为低，关断LDMOS，从而实现过流保护功能。

图4 控制逻辑电路图

　　3 仿真结果

　　我们利用BCD 高压工艺，在cadence 环境下进行电路仿真验证。结果如下：

　　前沿消隐电路的仿真仿真条件：取电源电压为5.8 V，2 pF 的电容在10μA 的放电电流情况下，延迟时间为Tdelay=C*0.

　　5VDD/I =2p*2.9/10μ= 0.58μs，仿真结果如图5 所示。

图5 前沿消隐电路仿真

　　采样电路的仿真

　　设检测端电压一般在10～50 V 之间变化，我们设置V（Detect）=SIN（30,20,50 k）；周期为20μS；又设在采样周期内，比较电压为1 V；依据LDMOS管导通特性，设输出漏电压高于某值（本例为20伏）为过流，则分压比设计为K = R4/ （ R3+R4）=5 k/（5 k+95 k）=1/20， 于是得到采样电压值为V（Sample）=V（Detect）*k =SIN（1.5,1,50 k），即最大值为2.5，最小值为0.5。同样地，我们在采样电路输出端加上一个电容以消除电压尖峰影响。该采样电路仿真结果如图6 所示。

图6 采样电路仿真

　　比较电压产生器的仿真

　　在比较电压产生器输出端应加上电容Ccompare，以消除由于开关管导通的瞬间在Ccompare端产生的尖峰电压，仿真结果如图7 所示，其中虚/ 实线分别为有无电容存在时的仿真结果。显然，电容Ccompare的存在极大地改善了输出波形。电容Ccompare大小的选择，应该权衡消峰效果、充电速度和芯片面积消耗间关系。

图7 添加电容Ccompare 前后的比较

　　本例中，取Ccompare为4 pF。

　　过流保护电路模块的仿真

　　对图3 进行电路仿真，电源电压VCC 为5.8 V，LDMOS漏端检测电压在10～50 V 之间，栅端电压脉冲频率为132 kHz，占空比为60%的方波，SPICE仿真条件设置为VCC=5.8 V，V （Detect）= SIN（30,20,50k），V （Gate）=PULSE（0,5.8,0.5u,0.5u,0.5u,3u,7u），仿真结果如图8 所示。在1.26 uS~4.17 uS 和8.25 uS~11.2 uS 这两个采样区间内，采样电压V（Sample）较比较电压V（Compare）大，输出为低电平（过流保护，低电平有效）；在15.2 uS~18.2 uS 采样区间内，采样电压V （Sample） 较比较电压V（Compare）小，输出为高电平，对应不发生过流情况；其他时间段内栅电压处于低电平，对应LDMOS处于关断态，不可能发生过流，故过流输出信号OverCurrent 为高电平。仿真结果表明，该电路确实能很好地实现过流保护的功能。

图8 过流保护电路仿真结果

　　控制逻辑电路的仿真

　　在图4 所示的控制逻辑中，设置时钟CLOCK为PULSE （0,5.8,0,0,0,4u,7u）， 过流信号OVERCURRENT 在15us 时从高电平跳变为低电平，进行仿真。PULSE 信号记录了CLOCK 信号的开始， 并周期性检测过流信号。当过流信号OVERCURRENT 低电平有效时，R 为高电平，将RS触发器输出Q 复位为低电平，此时FC 为高电平，栅控信号GateSwitch 输出为低电平，关断LDMOS。仿真结果如图9（b）所示。

图9 控制逻辑电路的仿真

　　闭环控制电路的整体仿真

　　如图10 所示，图3 电路和外接LDMOS 形成一个闭环控制系统。仿真结果如图11 所示：在没有发生过流时，栅极电压的占空比最大；有过流发生时，过流信号OverCurrent 将栅极电压强制设置为低电平，关断LDMOS，从而达到了过流保护效果。

图10 闭环总体仿真原理图

图11 闭环总体仿真波形

　　3 结论

　　本文阐述了几种过流检测方法，分析了每种方法的优缺点。设计了一款闭环控制型的过流保护电路，它采用直接检测LDMOS 管漏端电压的方法，可以克服采用电阻检测时消耗能量，芯片容易发热的缺点，同时提高了开关电源DC/DC 的能量转换效率。另外，采取有比采样电路设计，克服了工艺偏差的影响，提高了采样精度。

　　基于3μm高压BCD 工艺，我们在Cadence 设计环境中利用电路模拟器Spectre 对该控制电路进行了分模块和整体模块的仿真，结果表明该电路可以较好地实现实时过流保护功能。