从实验室到量产测试只需一个平台？安森美、英飞凌、高通都在用这个方案

如今，半导体企业愈发关注产品上市前的测试环节。NI采用颠覆性的半导体测试方案，助力企业降低测试成本以及加速产品上市，这就是我们常说的“一个平台”战略，从实验室到量产测试，只需一个平台。安森美、英飞凌、高通等公司都在采用这个测试方案，一起来了解下吧~

半导体测试是NI重点发力的一个领域，NI推出了一系列测试方案，同时，NI专家还编制了技术资料《半导体测试》供大家学习参考，内容包含解决方案、核心产品、客户案例，由浅入深比较全面地介绍了NI半导体测试方案，可以说，了解NI半导体测试方案，看这份秘籍就够了。

半导体测试是NI的一个重要战略领域，因此我们一直在认真倾听客户的心声。也正因为如此，我们发现芯片制造商需要全新的革命性方法来改进半导体测试。而且我们也认为，现在正是大胆拼搏，变革测试系统的设计、部署和维护方法的时候。 

半导体量产测试利器—— NI 半导体测试系统

◆ STS是一系列基于NI技术且适用于量产环境的半导体测试系统。STS在完全封闭的测试头(test head)里面集成了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具；

◆ 这些系统采用“集成到测试头”(tester in a head)的设计，将量产测试系统的主要组件全部集成在测试头中，包括系统控制器、直流、交流和射频仪器；

◆ 待测设备连接以及 handler/prober docking机制。如此紧凑的设计大幅减小了占地空间，降低了功耗，减轻了传统ATE测试系统的维护负担，从而节约了测试成本。此外，STS采用开放的模块化设计，使您可以利用最新的工业标准PXI模块，连接更多的仪器，获取更强大的计算能力。

现成即用的交互式软件

数字pattern编辑器是一款用于导入、编辑、调试和载入测试pattern的交互式工具。编辑器包含Shmoo绘图等工具，可帮助您更深入地了解不同条件下的DUT性能。您还可以使用丰富的调试功能，覆盖pattern的故障，或使用数字示波器工具查看pin数据。该软件还集成了芯片pin图、规格参数和pattern的编辑表，可让您开发、编辑或导入数字测试向量和pattern。

设备规范

所有设备都拥有或需要一个规范来规定它们的使用方式。测试工程师可以定义这些规范，并在数字 Pattern编辑器中将规范的参数用作 为公式中的变量。

数字示波器工具

该工具使用pattern、时序集(timing  set)和电平，逐步更新数字波形实际模拟电平的二维图。

Shmoo工具

Shmoo工具可提供动态更新的合格/失败值强度图，而且可一次性 扫描两个变量，包括电平、电压、 电流、边沿或规格。

从实验室到量产测试，为何只需一个平台

过去IC较为简单且集成度较低，传统功能固定的台式仪器就足以满足实验室的需求。但随着集成度不断提高，测试要求也随之增加，所需的仪器也越来越多。我们看到的验证测试台通常包含了众多仪器，这种测试台大大受限于可用的占地面积和机架空间。而且空间并非唯一的问题。台式仪器通常设计为独立工作而非协同运行；即使通过 GPIB 或以太网进行集成 ，也无法实现所需的高数据吞吐量、低延迟通信和紧密同步。

另一方面，量产ATE主要是用于满足对高度集成的微处理器、存储器和复杂SOC的需求。但是对于RF和混合信号IC，量产ATE很难进行扩展，而且通常无法提供所需的功能。总体而言，实验室的台式仪器和量产ATE等传统方法正在给芯片供应商带来业务风险。此外，代码模块无法复用或难以充分利用、培训“学用脱节”等都会导致效率低下，从而影响总测试成 本和产品上市时间。鉴于上述种种情况，是时候考虑基于PXI和NI软件平台的整体测试方法了。