NI展示Pre-5G波形产生/量测技术

国家仪器(NI)日前于夏威夷檀香山举行的2017年国际微波会议 (International Microwave Symposium, IMS)中，正式展示Pre-5G波形产生与量测技术。该场技术展示主要强调Verizon 5G 技术论坛(5GTF)与3GPP提议之新无线电(NR)物理层，在讯号产生与波形分析的代表性地位。

NI无线设计与测试部门副总裁Charles Schroeder表示，在测试与量测作业上，由于该公司通常采取软件为主的方式，得以随着软件开发一并革新PXI测试系统，透过这类做法，工程师日后便能采用目前用来测试LTE-A与LTE-A Pro产品的相同VST架构测试系统，来测试5G产品。

此次技术展示结合运用了1GHz带宽的PXIe-5840第二代向量讯号收发器(VST)，以及用于调变及解调的Pre-5G软件。 重要的波形调变功能，则包括同时支持离散傅立叶变换展频正交频分多任务(DFT-S-OFDM)与正交频分多任务存取(OFDMA)，以及弹性的子载波间距与组件载波组态，后者可支持3GPP 5G NR与Verizon 5GTF规格，且总支持带宽高达1GHz。 此项技术展示的传统应用范围包括测试RFIC，例如RF功率放大器、前端模块与收发器。