爱德万测试系统持续升级提升Wi-Fi 6、5G通讯IC测试战力

日系测试设备龙头爱德万测试(Advantest Corporation)持续升级5G、Wi-Fi 6晶片测试系统战力。

爱德万表示，针对市场上需求不断上升的作业频率达8GHz之Wi-Fi 6E、5G-NR收发器、LTE-Advanced Pro以及IoT通讯装置，推出V93000平台新一代Wave Scale RF通道卡。最新的V93000 Wave Scale RF8卡具备高度平行多元件同测及元件内部平行测试能力，能大幅减低测试成本，并加快最先进射频(RF)半导体的上市时间，同时也为未来的5G-NR装置测试打下基础。

爱德万表示，此产品之所以能实现优异的多元件同测能力，归功于最高8GHz的超广作业频率范围和200 MHz调变频宽。V93000平台能配置多达6张Wave Scale RF8卡，每张都具备32个双向射频埠，相当于能进一步扩充至192个射频埠。

据表示，最新Wave Scale RF8卡配备有4套完整的射频子系统，具有提供高产能的最佳化架构设计，每一套子系统都拥有独立调变讯号源、混波器/数位转换器、射频S参数、选配的低相位杂讯本机振荡器，以及能在最短时间内执行多项射频量测的测试处理器机。Wave Scale RF8能提供非常快速的设定，频率/功率切换时间低于600微秒，功率切换时间亦不到80微秒。此外，也支援Wave Scale RF18与Wave Scale Millimeter测试系统。

爱德万测试V93000事业单位总经理暨执行副总Jurgen Serrer表示，在单一通道卡中具备多个独立子系统的爱德万测试Wave Scale RF8卡，专为降低新一代Wi-Fi 6E装置生产成本、提升成本效益而设计，也预先为将来的5G和Wi-Fi通讯IC测试打开康庄大道。