日置Hioki IM3536 LCR测试仪技术支持

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Hioki IM3536 LCR测试仪
测量频率DC，4Hz~8MHz
测量时间：最快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中

测量频率4Hz~8MHz，精度保证范围1mΩ和测量范围扩大
以往产品（3532-50）的测量带宽为42Hz~5Mhz，而IM3536的带宽扩大到了4Hz~8MHz。因此，可以测量用于各种领域中的电子元件的特性。特别是，最高频率8MHz适用于高频化的电源用电感的测量。
而且，精度保证范围比起以往产品10mΩ以上，IM3536的精度保证为1mΩ以上，因此也适用于有低频化要求的电容等的测量。

和以往产品相比，实现高速、高精度测量
IM3536和以往产品相比改善了测量时间和基本精度。
比起以往产品的测量时间为5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），测量速度提高了4倍。因此，用于电子元件的产线中时，有助于提高产量。
而且，相对于以往产品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536为0.05%，因此适用于有高精度要求的电子元件。

连续测量功能，1台即可完成不同条件的检查
在电子元件的评估中，有时会需要对1个电子元件需要按照不同条件和项目来测量。以往产品因为测量条件的切换时间和测量时间较慢，所以这类多种条件检查会需要多台测量仪器。
IM3536的测量条件的切换和测量实现了高速化，而且IM3536具备连续测量功能（不同测量项目连续测量的功能），因此1台IM3536就可以完成以前多台测量仪器才能完成的测量。 这样，可以简化产线中所用自动检查机的结构，从而实现低价化。

具备提高检查品质的接触检查功能
检查时，发生测试探头的断线、和被测物的接触不良时，可能存在测量误差变大等影响测量值准确性的现象。为了防止此类事情，标配了能够知道测试探头断线和接触不良的接触检查功能。由此有助于提高检查的品质。