广立微电子携手亿瑞芯发布创新可测性设计解决方案

为了解决随着集成电路工艺日益复杂，芯片设计规模增大所带来的生产缺陷和低良率的问题，杭州广立微电子股份有限公司及其子公司上海亿瑞芯电子科技有限公司在杭州联合发布了业界领先的DFTEXP可测性设计自动化和良率诊断解决方案。

DFTEXP是一款全新的EDA平台，集成了最先进的DFT工具、DFT设计和良率诊断分析流程，有效应对了复杂SoC芯片、大规模芯片的诊断测试和汽车电子的功能性安全测试挑战。该平台通过提供全流程工具，支持不同应用领域芯片的DFT设计，包括MCU、AI、GPU、Network、5G基带、AP等，同时支持系统级测试的In-System-Test，以满足汽车电子的功能安全测试方案。

DFTEXP平台的优势在于提供全方位的良率提升方案，适应不同工艺和Fab的需求。通过DFT诊断和Fab大数据分析系统，能够快速发现影响良率的根本原因，并建立有效的提升方案。结合DATAEXP-YMS中多维度的芯片相关数据，如产品版图、WAT/CP/FT测试数据、产线上的工艺步骤、设备和缺陷等监控数据，该平台能更精准地识别故障行为和分析故障根因，从而加速芯片产品上市周期。

DFTEXP的推出标志着广立微电子与亿瑞芯在可测性设计领域的重要突破，为行业提供了一套完善的良率提升解决方案。