HTOL/LTOL 芯片级动态老化电测设备开发与ATE CP/FT电测设备整合测试方案——苏州鑫达半导体科技有限公司

随着我国对半导体行业政策的支持力度加大以及测试设备市场广大的重大利好条件下，国内涌现出一批以苏州鑫达半导体科技有限公司为代表的技术先进、产品可靠的优秀公司。

苏州鑫达半导体科技有限公司由多位芯片验证行业充满热忱与工作超过20年的团队成立于苏州。创始人拥有国内外知名顶尖高校工学硕博士学位，所创立的苏州鑫达半导体科技有限公司是一家集芯片高端仪器、设备研发和半导体设计与测试的方案公司。

苏州鑫达半导体科技有限公司近期主致力于一系列集成电路电性测试设备的开发、方案设计、与生产以及后续的相应的软硬件配套测试技术服务。

公司拥有多项国内自主开发专利及软著,为客户提供完整测试方案。

·为芯片方案设计公司提振项目设计研发阶段NPI (New Product Introduction)可靠性与量产导入;为设计公司提供ATE Test Plan到AEC/JEDEC Qual Plan提供完整的测试方案。也合适半导体科技公司固定资产投资作为研发费用。

·动态测试后提振产品竞争力;对独立实验室与相关测试单位提供国产可靠(无美系)且有实际案例的测试平台。

·对晶圆厂提供新工艺的晶圆电性可靠性测试平台与方案。

·搭配封装测试厂提供国产可靠的芯片NPI/ELFR/MP量产测试的共同测试平台并与产品的ATE测试需求形成完整的测试方案体系。

除了自研设备之外，目前苏州鑫达半导体科技有限公司另提供大量半导体业界知名的ATE测试设备与板卡(Teradyne,Advantest,LTX,Verigy, ....)的电路板维修、保养、出借(租赁)与买卖。

苏州鑫达半导体科技有限公司目前已出货的可靠性电性测试设备具有六大优势：

·核心技术非源自美国,具国产化集成化的自主优势。

·可以客制化设备规格功能。

·生产工厂在苏州,料件更新快。

·本地现场支持工程师多,服务到位(相对外国设备仅皆为代理商业务推广,现场支持慢,料件更换慢)。

·经过验证洗礼,没有日后卡脖子的料件跟PCB制版授权问题。

·苏州鑫达半导体科技有限公司测试设备优良的性价比与可操作性,可做新产品实验室(NPI)导入验证跟实验室/测试厂的(ELFR/MP量产)的共同测试平台,可为客户节省目前业界经常发生的前段NPI设备与ELFR/MP量产设备因不同设备种类的需转平台的耗时耗物力的资源浪费问题。

在苏州鑫达公司车间ATE半导体电测设备出机以及ATE电测设备操作与使用培训集锦；Xintek所开发的半导体动态老化电测设备(LTOL/HTOL)的出机与安装

XSSSE2206B/2106Bm系统针对MemoryALPG 、LOGIC 、ASIC…等低功耗产品的电性功能可靠性电性功能可靠性测试(HTOL/LTOL)的不同测试阶段需求(NPI/ELFR/MP)而设计，采用独立的BY TGboard设计,每个Slot都可独立运作, 可以搭配 AutoLoader/Unloader自动上下料在测试厂量产测试。DC Power使用TDK Lambda原厂供应达到最佳的稳定度和可靠度。专有的Flash Memory(NAND、NOR、SPI), DDR Memory指令让程序开发更加快速高效, 便捷的WINDOWS操作平台, USB通讯，具备极强的系统兼容性。设备为自主研发、制造, 能提供完善的设备后期服务, 技术支持以及相关程序开发与测试版制作。

动态老化电性测试设备安装

ATE电性动态测试设备租赁维护

最后,再次欢迎业界新朋老友,旧雨新知来现场与我们交流共同学习成长,再次促进国内产业的大发展。

苏州鑫达半导体科技有限公司主要由下列业务部门组成:

高端集成电路电性测试设备开发;

ATE电性测试设备/板卡租赁与买卖;

集成电路软硬件技术服务与方案设计;

各种工程技术与服务需求，欢迎谘询:

苏州鑫达半导体科技有限公司。
座机:+86-512-65109226

电话: +8617706239337

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