硬件调试的时候，拔电池，结果充电IC损坏了

今天遇到一个这样的问题。

之前设计的PCB打样回来了，电路板上有电池供电，有充电电路，电池没电后，可以直接给电池充电。

结果在调试硬件的时候，发现拔电池的操作，充电IC很容易被烧坏。电路板充电电路如下所示。

充电电路原理图如下。

如上图所示，充电电路中的充电IC选用的是TP5400，这是一款集充电和放电一体的充电IC，最大充电电流是1A。

拔电池时，这个充电IC很容易被烧，而且每次被烧，用万用表测量充电IC的6脚和8脚都是短路的。但是，把电感L2拆下来再测量，就只剩下8脚短路了。

初步认为造成充电IC烧坏，跟电感L2有关。因为电感L2和二极管D17在这里构成的是boost型的开关电源电路。当拔电池时，接电池这一侧的电感PIN没有续流二极管，没有泄放回路，电感的感应电动势比较大，从而把充电IC的管脚击穿损坏。

不过，还需要进一步排查分析，才能确定是不是这个原因引起的。如果你有不同的见解和好的建议，可以留言告诉一下，让我去验证，最终找出真正的原因。

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