信号链及车规芯片（Sensor+ADC+MCU）在线研讨会【12月29日 直播报名 免费】

在IC设计与测试验证日益复杂的今天，如何快速高效地实现研发实验室测试IP化、测试数据收集自动化、测试报告生成自动化，已经成为半导体公司的核心竞争力之一。

半导体设计公司实验室研发人员需要考虑的问题经常包括：

• 设计性能是否符合Spec预期

• 实际应用条件下的性能表现如何

• 设计的裕量有多少

... ...

问题的核心目的都是为了按时交付高质量的产品！

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论坛介绍

12月29日，EETOP特别邀请到孤波科技和NI的技术专家进行在线直播。届时会将以信号链芯片和车规MCU为例来说明，如何通过特定的方法和工具可以加速设计公司高效快速地完成产品性能验证, 并通过数据和流程控制确保产品质量。

议程安排（拟）

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精彩议题提前剧透

信号链芯片

信号链芯片（Sensor+ADC+MCU）作为模拟芯片领域中的重要组成部分，在国产替代的行业大趋势背景下，本土厂商近年来已在各细分领域取得了不同程度的突破，如何进一步加速高性能产品的研发与上市，打破国外大厂在这一领域的统治格局，将是新一轮的挑战。

车规MCU芯片车规级MCU工作寿命要超过15年, MCU 进入车规级市场要经过严格的认证。同时认证流程需要大量可追溯的测试数据，除了在实验室测试进行自动化测试，还需要将芯片的测试需求、test case、测试数据一并集中管理。我们将在演讲中介绍MCU实验室芯片验证方案与车规落地实践，助力本土车规级MCU安全快速进入市场。

议

题

概

况

本次直播, 专家们将围绕半导体设计公司在实验室研发验证中的场景分享并演示：

• 如何把所有不同的测试仪表及相关硬件集合在一个软件平台上进行无需编程即可组合各种测试 。

• 如何自由增加测试变量的维度，自由选择测试变量的范围，进行各种无限制维度的扫描测试，自动产生测试报告 。

• 如何通过一个结构化的可被扩展的数据库，把相关的所有资源和数据都有效地管理、组织并复用起来，提升执行效率与质量。