西门子EDA的故事

作为芯片设计创新核心的EDA软件，在芯片技术带来社会变革的数十年里，一直在提高半导体设计生产力。

为了更好地为芯片客户提供服务和支持，西门子EDA特别策划了本次EDA创新技术客户交流会。

在本场会议中，西门子EDA 全球资深副总裁及亚太区总裁彭启煌先生为大家带来《西门子 EDA 加速创新，智领未来》的主题演讲，详细介绍了西门子EDA的三大技术发展重点。此外，还有两位来自西门子EDA 紧密合作的客户——摩尔线程、芯擎科技的同仁，以及西门子EDA 内部的技术专家，和大家共同探讨最新的芯片设计创新技术。我们将围绕 DFT Flow、ISO 26262 芯片设计规范需求、车规芯片功能安全等多个话题和大家分享实战经验。EETOP获得 西门子EDA的授权，现将本次技术会议的视频回放分享给大家.扫码后，成功登录西门子的视频后台后即可观看。
西门子EDA的故事作为全球工业巨头，西门子在数字化工业软件领域投入上百亿欧元，通过不断地研发创新与商业重组，逐渐补全了在他们在EDA领域的业务能力，包含：布局布线技术、fab-to-field工厂现场分析能力、集成电路完整性验证解决方案，以及帮助客户验证IP模块和设计等。作为首家进入中国的EDA公司，自1989年以来，西门子EDA参与了多个中国工程项目的建设，为数以百计的中国半导体客户提供技术支持与服务。如今，西门子EDA可提供覆盖IC设计、验证与制造/ IC 封装设计与验证/电子系统设计与制造的设计软件及服务，帮助各类规模的公司更好地应对芯片设计的复杂性，并利用它来提高生产力，取得实现产品差异化的竞争优势，提升盈利能力和加快上市速度。在西门子EDA 全球资深副总裁及亚太区总裁彭启煌先生的主题分享：《西门子 EDA 加速创新，智领未来》中，将为大家讲述这背后的故事和西门子EDA的真正实力！会议精彩内容扫码即刻呈现！
Tessent实现最佳DFT解决方案当今，半导体公司面临着与技术节点缩小、设计规模扩大和系统规模扩宽相关的严峻挑战（称为“三大缩放挑战”）。这些挑战对设计开发、制造和功能操作有着广泛的影响，而所有这些都会影响到企业的经营利润。同时，大型片上系统(SoC)设计的复杂性与日俱增，这给包括可测试性设计(DFT)在内的所有 IC 设计学科提出了更为严峻的挑战。传统 DFT 方法带来的后果可能有：错过上市时间、测试成本高于预期、芯片质量低于预期、良率提升缓慢，以及无法在生命周期内维持器件性能。作为SoC芯片DFT测试的市场领导者，西门子EDA旗下的Tessent 工具平台和解决方案能够帮助客户降低风险，实现更低的测试成本，更优的功耗、性能和面积，把产品更快推入市场。会议精彩内容扫码即刻呈现！
Questa助力车规芯片“零缺陷”随着汽车电动化、网联化、智能化、共享化“新四化”的趋势不断加速，半导体在汽车中的占比越来越高。据悉，一辆新能源汽车所需的芯片多达1000颗以上。随着汽车芯片种类和数量应用的增长，也带来了一个隐忧，那就是，任何一个芯片的失效对一台车来说很可能造成致命性损伤。想要打造一款零缺陷的汽车芯片，需要从芯片源头的设计开始，到后面的制造、封测进行全方位的覆盖才行。作为一切工作的基础，EDA工具在很大程度上决定了汽车芯片的初始质量。西门子EDA的Questa 设计解决方案已获得ISO26262认证，针对车规芯片的开发，从代码的编写到全芯片的全面语法语义的检查，到模块的功能验证检查，X 态的检查，再到跨时钟域和跨复位域的亚稳态检查，提供了满足ISO 26262 要求的静态和动态检查的解决方案，并能够进一步针对网表进行跨时钟域、时钟树及复位树路径和上的毛刺检测，有效避免系统性失效的问题。会议精彩内容扫码即刻呈现！
西门子EDA为车规芯片的安全保驾护航不同于传统汽车，面对错综复杂的道路情况，自动驾驶技术的发展对于汽车信号的高速传输、大量的数据处理提出了极其严苛的要求。而且汽车的使用寿命通常高达10-20年，“超长待机”的生命周期也要求汽车的设计和验证数据需要保持10-20年的可追溯性，这无疑对整个数字化管理转型带来全新挑战。西门子近些年来巨额投入用来加速数字化解决方案，西门子EDA 联动西门子 Xcelerator 的资源与优势，为汽车电子提供了高层次的全面的安全解决方案。增强的安全解决方案包括功能安全的设计和验证，复杂芯片的高质量的测试方案，基于硬件的网络安全，生命周期内的实时数据收集和安全处理。会议精彩内容扫码即刻呈现！先进总是在行动中迸发，人生总是在不行动中落后。欢迎您注册观看西门子EDA的创新技术客户交流会，让西门子EDA 为您的芯片设计全生命周期保驾护航！

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