【中标】新微半导体射频可靠性设备中标结果公布

集微网消息，10月18日，上海新微半导体有限公司（以下简称“新微半导体”）射频可靠性设备中标结果公布。

该项目中标人为天津海瑞电子科技有限公司（以下简称“海瑞电子”），涉及标的物1套砷化镓射频器件高温工作寿命老化测试系统、1套（大功率） 高功率氮化镓射频器件高温工作寿命老化测试系统、1套氮化镓射频器件高温反偏测试系统、1套氮化镓射频器件高温栅偏测试系统、1套稳态温湿度偏压测试系统和1套高加速温湿度及偏压测试系统。

海瑞电子成立于1998年, 主要从事于半导体分立器件可靠性测试设备以及老化板设计制造，能够为二极管、MOSFET、IGBT产品提供全套可靠性测试方案，包括可靠性设备的选型，可靠性方法的培训，试验流程的讲解，以及最终实验数据的分析统计。（校对/韩秀荣）