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来源:第三代半导体风向发布时间:2022-09-282011浏览
询问 AINovuSiC® MOSFET 首发
高性价比,性能全球领先
发布会上,蓉矽半导体副总经理高巍博士作了“厚积薄发、创新不止”主题报告,详细介绍了蓉矽碳化硅MOSFET的开发历程、设计理念和独特优势,而蓉矽半导体应用工程师王德强则围绕产品应用展示了应用领域、应用场景和解决方案,体现了蓉矽半导体自主研发的实力和逐鹿车载芯片市场的决心。据介绍,蓉矽在本次发布会推出的NovuSiC® 1200V/75mΩ MOSFET G1产品,是历经900多天的研发、打磨,通过深耕细作,实现了厚积薄发。
表1. NovuSiC® 1200V/75mΩ MOSFET G1关键参数
NovuSiC® MOSFET可以做到在大幅度降低静态损耗的同时,减小动态损耗,因此能够提高系统整体功率密度,降低系统总成本,该产品在新能源汽车、直流充电桩、光伏系统等领域表现亮眼。蓉矽半导体在SiC MOSFET开发过程中,从应用场景出发,坚持电学性能、鲁棒性与可靠性各项均衡、优化的理念——即兼顾比导通电阻和栅氧化层电场的同时,通过采用更低栅压驱动,优化栅氧工艺、栅氧化层电场强度,降低结终端的曲率效应等举措来提高器件的鲁棒性和长期可靠性,体现了蓉矽半导体对创新和品质的极致追求。具体来说:

图2:蓉矽半导体NovuSiC ® 1200V/75mΩ MOSFET短路鲁棒性

两大关键策略
大幅提升可靠性
可靠性方面,针对FN隧穿、陷阱辅助隧穿以及外部缺陷造成的栅氧化层退化、失效等风险,蓉矽半导体提出“控制栅氧化层电场、提高栅氧化层质量/筛除栅氧化层缺陷”策略对其进行针对性优化,进一步提高了栅氧化层可靠性。一、平面SiC MOSFET中,栅氧化层高电场主要集中在沟道位置与JEFT区栅氧中心位置。1)针对沟道位置处电场:通过采用更低的工作栅压,保障栅氧化层的长期可靠性;2) 针对JEFT区栅氧中心:设计之初就将额定阻断电压1200V时的栅氧化层电场强度限制在较低水平,远低于常规4.0MV/cm的限制,以削弱其电场强度。二、晶圆测试阶段引入WLTBI(Wafer-Level Test Burn-In)以筛除栅氧化层于产品生命周期中的潜在退化/失效。

表2. NovuSiC® MOSFET G2关键参数
进军车载市场
推动汽车电动化转型发展
在新能源汽车、充电桩、电驱控制等领域,碳化硅功率器件可提升整车效率,增加续航里程,是应用的主流趋势。加之中国拥有全球最大的市场规模,行业需求旺盛。为此,除了推出高性价比的NovuSiC®系列产品外,蓉矽半导体还推出了高可靠性的DuraSiC®系列产品,其中DuraSiC®系列产品主要应用于OBC和车载DC-DC中。
提供评估板
兼容多款驱动芯片
为了方便客户在产品开发前期评估方案可行性,蓉矽半导体特别开发出了“EVAL-MAIN”评估板,以提供给客户进行单双脉冲测试,评估开关管动态性能。

新闻来源:第三代半导体风向,文中所述为作者独立观点,不代表icspec立场。更多精彩资讯请下载icspec App。如对本稿件有异议,请联系微信客服specltkj。
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