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来源:集微网发布时间:2022-04-011050浏览
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如上图所示,传统结构的终端保护区在第一导电类型漂移区2上设有栅沟槽20,该装置利用多个栅沟槽20的分压作用,来改善芯片外围的局部电场集中效应,从而提升芯片的击穿电压及可靠性。
如上图,为该专利中发明的沟槽栅MOSFET的终端保护区剖面结构示意图,该半导体基板包括N型衬底1和位于其上的N型飘移区2。这种结构的特征在于,N型飘移区内设置有元胞区邻接的过渡区沟槽3和截止沟槽4,这两个沟槽通过缓变结P型阱区5相连接,阱区呈梯度设置且深度逐渐减小,而在阱区的表面,覆盖有绝缘介质6和有源极金属7。
首先,该方案基于包含有N型漂移区的半导体基板上实现,该基板结构如上图所示,上表面为第一主面001,下表面为半导体基板的第二主面002。对于第一主面,需要在其上淀积氧化层,通过对氧化层的刻蚀来形成图形化的掩蔽窗口。
之后,再次形成图形化掩蔽窗口,在其遮挡下对第一主面注入P型离子,如上图所示,将P型离子激活并扩散连成一片,在N型漂移区内形成位于终端保护区的缓变结P型阱区5和位于元胞区的P型体区13,然后去除图形化掩蔽窗口。
集微网消息,国家发展改革委、财政部日前发布《关于外观设计专利年费、单独指定费标准有关问题的通知》(以下简称“《通知》”)。新闻来源:集微网,文中所述为作者独立观点,不代表icspec立场。更多精彩资讯请下载icspec App。如对本稿件有异议,请联系微信客服specltkj。
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4 天前

2026-07-23