昊衡科技打破国外技术垄断，实现OFDR技术国产商用化

以往光频域反射仪（OFDR）只有国外少数几家公司拥有高端仪器，细分市场也被垄断，国内需求只能依靠国外进口。昊衡科技自主研发了系列产品，其核心技术具有原创性和自主知识产权，实现OFDR技术国产商用化，解决了这一新技术的痛点问题。

在通信测量领域，昊衡科技推出了OFDR商用产品OCI系列，该系列产品可用于实验室以及室外工程。系统自校准无需人为干预，稳定性非常好，主要技术参数已经处于国际领先水平，测量精度可达μm级别。

图． OCI高分辨光学链路诊断仪

OCI系列产品

全功能的OCI能测量回损、插损、光纤长度、光谱、群延时等；

简化版的OCI－T主要针对硅光芯片器件、光纤微结构定量分析，品质监测及故障诊断；OCI－L专用于光纤或光学链路长度测量。

测试案例 ——插入损耗测试

光纤链路通常包含多连接点、弯曲和多器件， OCI特有的分布式高精度插损测量能力，可以快速准确地测量并定位链路各事件点的插损。

案例中用可调衰减器在衰减2dB、3dB、5dB时重复测量10次，插损测量重复性误差小于0．1dB。

回波损耗测试

硅光链路具有高度集成性，传统回损测试方案无法精确定位、测量硅光链路某一位置或器件回损特性。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度，可以快速并准确地获取全链路任意位置的回损特性。

如图所示为平面波导延迟线。选取芯片中心0．2m长度区域计算回损，其值为－57．95dB。同样，研究人员也可通过OCI测量光纤与硅光芯片耦合点回波损耗来评估耦合效率。

光纤长度测量

OCI在50m测量范围内空间分辨率为10μm，非常适用于高精度光学延时测量领域，如光纤延时、硅光延时、空间光路延时以及迈克尔逊干涉仪的精准测量。

啁啾光栅光谱及延时测量

OCI采用扫频光源，覆盖C＋L波段，根据气体吸收线定位波长，可以实现1pm光谱测量精度和1ps群延时测量精度。

以啁啾光栅为例，测量距离－反射率曲线、光谱及延时曲线，测量空间分辨率为10μm。

根据延时曲线测量结果，可以计算出光栅的平均色散补偿系数为11．1979ps／nm。

昊衡科技始终秉持着“技术感知世界”的使命，将不余遗力的坚持创新创造，励志打破国外技术垄断，将国产OFDR技术推向世界。

资讯来源：昊衡科技