EDA加速车规芯片设计 来源:eetop 发布时间:2021-11-09 150浏览
询问 AI车规芯片 属于半导体 芯片 的一个分支。目前芯片 设计验证遇到的很大一个瓶颈就是人才短缺,对车规芯片 来说也是如此。据统计,2020年的IC设计 从业者约20万人,但是企业对人才需求量已经远远超过这个数目,导致在今年几乎每家半导体 设计公司都在抱怨急需的设计验证人员难招。芯片 人才短缺一方面在于传统人才培养模式的不足,在这方面我们很高兴地看到国家已经布局,而且开展了一系列的EDA的产学研结合项目;另一方面人才短缺很大程度是由于国外EDA工具的垄断性和封闭性造成的,这种保守和封闭性让国内普通的开发者很难广泛接触,更谈不上二次开发。 车规芯片 是一个复杂的软硬件系统。车载芯片 互联从传统简单的传感器通过CAN,MOSE,FlexRay总线互联,逐渐转变成复杂的车用以太网(Automotive Ethernet)互联;传输的数据也从以往的调试诊断信息,提升到音视频娱乐信息(Infotainment),重要任务(Mission Critical)数据信息。随着数据量不断增大,数据内容和延迟确定性愈加重要,车规芯片 内部的软件也因此愈加复杂。 车规芯片 也是一个芯片 领域比较特殊的种类,尤其是它对功能安全有严格的要求。车规芯片 的功能安全完整性等级(ASIL)划分要求芯片 在设计过程中有一系列的严苛检测和覆盖率报告。 传统的芯片 设计验证方法学很难有效地应付功能安全领域复杂的需求,这个挑战也正在促使设计方法的变革。先进的设计理念可以让效率大幅提升,加速设计周期,提高芯片 安全等级。 要摆脱目前车规芯片 困境,包括对国外半导体 厂商、EDA工具的依赖,国内芯片 人才短缺、设计理念落后等制约,就必须强调EDA理念,工具,和方法学变革。 为此,我们对加速车规芯片 设计提出三点建议:O1 EDA理念变革 大部分传统的EDA工具不向公众开放中间层接口,普通用户无法二次开发,长期以来导致产品生态封闭,用户群体狭窄。芯华章强调利用EDA 2.0技术和理念,采用芯片 设计平台服务(EDaaS(Electronic Design as a Service))模式: 工具有机嵌入云原生服务,同时提供全方位开放的接口,并广泛地适配到设计验证各项的流程中。工具接口开放化,工具本身平台化,由此可以让芯片 设计和验证更加自动化智能化;同时EDA 2.0也能够让更多人通过EDaaS参与到芯片 设计中,并快速高效地完成工作;依托EDA 2.0技术是解决芯片 人才瓶颈最有效的方式之一,我们希望在将来看到有更多的嵌入式工程师,系统工程师,甚至软件工程师都可以利用EDA 2.0技术,高效地参与芯片 设计研发。O2 EDA工具变革 EDA工具为功能安全提供数据支撑,尤其是ISO26262认证所需的定量分析:失效模式影响与诊断分析 (Failure Mode Effect and Diagnostic Analysis,简称FMEDA)。在设计车规芯片 时,FMEDA常用的手段就是对芯片 进行有意的故障注入(intentional fault injection),然后再分析错误注入引起的功能故障概率(失效率),以此评定车规芯片 的安全完整性等级。 因此,EDA工具需要能够产生各种故障模型(fault model)的测试 激励。由于芯片 中需要注入的错误数量巨大,种类繁多,传统仿真工具在做大规模测试 时往往性能低下,耗费内存巨大,而且仿真时间冗长。这是因为传统仿真工具引擎是专注功能验证,它对于故障注入来说,内存和CPU 开销都是巨大的。 因此,故障注入需要EDA公司设计一种特殊的仿真器引擎,从而提高故障注入仿真效率;此外,芯片 故障注入测试 需要仿真器能够处理更多的故障,且尽可能多地并发执行。由于通常芯片 内部部分逻辑具有规则性和对称性,通过形式化方式能够发现一些规则,从而大规模减少不必要的注入的数量。一旦测试 用例的数量减少了,仿真所需的总时间就可以减小了,这也可以从另一方面提升仿真器的效率。 仿真器只是EDA工具变革的一个典型的例子。其他的工具,如形式验证,也可以针对功能安全做很多增强和优化,包括自动探测安全路径、自动检测关键路径上的可应用的错误模型:包含固定开路故障(stuck at fault),瞬态故障(transient fault),迁移故障(transition fault),桥接故障(bridge fault)等。这些技术将大大提升车规芯片 的验证效率。O3 设计方法学变革 车规芯片 不同于消费电子芯片 之处,在于安全性和可靠性特殊要求。车规芯片 在设计之初要做很周密的架构探索,这些前期工作的目的就是为了首先确保安全性,其次达到ISO26262 认证的要求。车规芯片 为了要保证在严苛环境下设计的安全性,常常会使用一些特殊的逻辑功能:比如在数据流中的采用硬件CRC校验,在片内SRAM和Flash memory中采用单比特奇偶(parity)校验,数据读取ECC校验,以及芯片 电源 电压检测;在控制密集型逻辑上采用冗余逻辑,如多个CPU 同时处理单一任务,输出结果比对,双看门狗(watchdogs)系统,时钟电路备份机制等。要设计这些安全措施相关的逻辑单元,就需要在设计初期验证它的必要性,可靠性,和完整性。根据实际经验,我们推荐在设计之初尽早引入芯片 功能的虚拟模型。这种基于虚拟模型的开发能够让设计师和架构师尽早分析优化系统,探索不同构架在安全性能上的优势。 一方面设计工程师,在没有SoC真实环境的条件下,可以用这些模型验证对复杂设计做前期分析,做出功耗性能面积最优的判断;另一方面,验证工程师利用虚拟模型可以尽早开发白盒测试 环境,也可以提前进行复杂系统的软硬件协同测试 ,甚至可以将模型编译在通用控制器里,放在ECU系统中进行实际现场测试 。 虚拟模型拥有诸多优势,但它的前提就是需要工程师广泛意识到它的重要性,并在设计验证中积极探索利用好它,同时EDA厂商也应该积极和各种芯片 IP厂商合作,开发更多丰富灵活的虚拟模型,并构建利于产业积极发展的生态圈。验证测试 左移(shift-left)是当前复杂芯片 设计领域的倡导的趋势,而在车规芯片 上,我们认为虚拟模型是一个验证测试 左移完美的助力点。总结 在过去的20年里我们深深地意识到技术发展给芯片 行业带来的变革,但同时我们也越来越迫切的需要更强的技术创新,来满足我们日益发展的芯片 行业需求,解决我们面临的各种挑战。我们深信依托EDA 2.0带来的EDA工具变革,可以解决人才技术瓶颈问题;改进工具能够更好地提高设计验证效率;广泛使用虚拟模型将会提高架构探索质量、提升车规芯片 安全性。我们希望和各个行业的同仁积极探索交流,共同发展进步,为我们国家芯片 ,包括车规芯片 的发展,做出贡献! 正在寻找芯片现货或供应渠道? 芯片求购一键发,icspec供需随心看。
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