提高DFT测试覆盖率的方法

 

对于输入管脚，添加一个带有选择端的寄存器。当控制选择信号为“0”时，电路处于正常工作状态，功能逻辑从输入端接收到正常的输入数值。当选择控制为“1”时，电路处于测试状态。在移位过程中，这些点由测试链预置相应的值;在捕获过程中，将之接地防止不定态在设计中的传播。

 

　　在输出管脚处，添加少量异或门和选择器件。当控制选择信号为“0”时，电路处于正常工作状态，输出管脚正常输出功能信号。当选择控制为“1”时，电路处于测试状态，用异或门将未能绑出的管脚的变化引出，相当于这些管脚也可以被观测了。

　　针对图2所示的数字-模拟接口，部分模拟模块输入信号通过组合逻辑给出，但在测试时并没有逻辑将这些“终点”的信号影响引出观察，因此这些点是不可观测的。这与DFT设计可观测要求(需管脚直接输出)不相符，可能造成测试覆盖率的损害。同时，部分模拟模块输出信号控制相应的组合逻辑，但在测试中，这些点是“浮空”(不可控制)的。这与DFT设计可控要求(需管脚直接输入)不相符，造成测试覆盖率的降低。图4给出了类似前者的定制解决方案，其实质也是把这些不可控和不可测点连到测试链上去，让这些逻辑间接可观测或可控制以改善测试结果。

　　

 

　　图4添加控制点和观测点提高测试覆盖率(数字-模拟接口情况)

　　如图所示，在模拟模块输入信号处添加少量异或门和选择器件，并将它们连到扫描链上去。当控制选择信号为“0”时，电路处于正常工作状态，模拟模块的输入管脚正常接收功能信号。当选择控制为“1”时，电路处于测试状态，用异或门或者其他器件将未能观测管脚的变化引出，相当于这些管脚间接可以被观测了。

　　如图所示，在模拟模块输出信号处添加一个带有选择端的寄存器。当控制选择信号为“0”时，电路处于正常工作状态，模拟模块信号正常输出到后续的功能逻辑。当选择控制为“1”时，电路处于测试状态：在移位过程中，这些点由测试链预置相应的值;在捕获过程中，将之接地防止不定态在设计中的传播。

　　对于其他的模拟模块如ADC, 存储器等，采用类似的方法可改善整个芯片的测试覆盖率和测试效率，达到目标测试效果。

　　结语

　　在前面提及的实际项目DFT设计中，功能逻辑部分含有万余寄存器。为提高测试覆盖率，添加仅12个寄存器及很少部分组合逻辑作为测试点后，即可将测试覆盖率从原来的95%提高到 98.3%。由此看来，这种方法是很有效率的。并且可根据项目实际需要，添加更多点以期达到更高覆盖率，理论上测试覆盖率可接近100%。

　　推荐RTL功能设计时就能考虑这种测试结构。这样做设计工程师之间能够了解彼此的设计需求，功能测试结构明晰，在DFT设计过程中省去很多麻烦。如果发现这类问题在RTL完成之后，一些DFT工具也提供用户自定义的测试点插入，但是要注意测试控制信号选取一定要与需要的测试模式匹配，否则无法完成相应的测试期望。这种方法的关键是了解在哪里加测试点更为有效。