上海微技术工研院牵手美国国家仪器引领国内射频及微波芯片测试技术研发

　　上海微技术工业研究院(SITRI)作为致力于“超越摩尔”半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心，宣布与美国国家仪器公司(National Instruments ，简称NI)签署合作，联合成立“射频及微波芯片(RFIC/MMIC)测试技术联合实验室”，通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作，进一步提升上海微技术工研院的研发能力，引领我国RFIC/MMIC 测试技术迈向国际化水平。

　　双方联合成立的“RFIC/MMIC测试技术联合实验室”将专注于射频及微波芯片测试技术的研究和开发，进一步推动该领域的集成测试与研发工作，包括物联网通信领域的高性能、高集成度射频前端通信产品研发，微波毫米波汽车雷达前端芯片的设计开发。同时，双方将在科学研究、技术创新、人才培养等诸多方面展开紧密合作。根据合作协议，上海微技术工业研究院将负责联合实验室的建设管理工作。

　　上海微技术工研院一直以来积极推进科研体制改革与创新，通过与业内领先企业的紧密合作，进一步推动RFIC/MMIC 集成测试与研发工作。此次与NI的合作意味着上海微技术工研院在测试技术领域又迈出了重要一步。联合实验室的成立进一步确立了工研院和NI在射频及微波芯片测试技术领域的国内领先地位，联合实验室不仅具备科学价值，其实验成果在生产领域同样具备广泛的应用价值。

　　“NI在RFIC/MMIC测试技术领域的成就有目共睹，”上海微技术工研院总裁杨潇表示，“和NI合作成立联合实验室，有助于进一步提升上海微技术工研院的测试技术和研发能力。双方在多项领域紧密合作，相互裨益，共同推动未来测试技术领域的不断创新与发展。”

　　美国国家仪器中国区销售总监项晓峰表示：“NI的RF产品和解决方案可应用于从设计到测试等一系列过程，上海微技术工研院提供全方位的RF研发和产业化解决方案及物联网生态系统，本次合作有助于NI在中国市场的发展。”