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来源:略尼钟发布时间:2019-09-041875浏览
询问 AI● 富有创新性的PACETM架构可以实现更高的工程生产力,更短的开发时间以及更低的制造成本。
● 兼容现有超过4000台装机量的UltraFLEX测试机与屡获殊荣的IG-XL软件。

“预计在2025年,SOC芯片的测试数据将会是2018年的8倍。无论是完全测试芯片所需的数据量,还是测试后的成品率和性能分析必须保留的测试结果的数量。”
“为了将这些芯片推向市场并提供业界领先的测试经济,我们认为ATE架构体系的根本性改善是必须的。”
——泰瑞达半导体测试部门总裁Greg Smith
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