爱德万测试（Advantest）成立于1954年，总部位于日本东京，是全球半导体测试设备（ATE）领域的重要厂商。其产品线涵盖SoC（系统级芯片）测试系统、存储器测试系统、量测仪器以及封测产线所需的自动化设备。技术优势主要体现在高端SoC测试系统和高容量存储器（HBM）测试平台。
近年来，随着人工智能和高速运算需求的提升，爱德万的HBM测试平台备受关注。不过，存储器测试业务仍具有周期性，容易受到市场波动影响。相比之下，SoC测试业务与先进制程、手机、基站及AI加速器等应用密切相关，尤其是高速SerDes需求的增长，使其具备更强的长期市场需求。
在逻辑芯片测试领域，爱德万测试与美国厂商泰瑞达（Teradyne）形成双雄竞争格局；而在HBM测试领域，爱德万测试占据了重要市场份额，特别是在支持NVIDIA和AMD等AI服务器供应链所需的HBM测试方面表现突出。
从供应链角度来看，爱德万测试的运营表现被视为半导体行业景气的领先指标。当晶圆代工厂（如台积电）或封测厂（OSAT）增加资本支出并引入新测试设备时，通常预示着下一代芯片即将进入量产阶段。
在先进封装量产前，热管理和信号完整性是关键挑战。爱德万测试提供的解决方案能够直接对接先进封装节点，确保封装质量和良率，为NVIDIA和AMD等大厂维持产能输出提供了重要支持。
