爱德万测试70周年发布新方案，关注Rapidus 2纳米进度

2024年，爱德万测试迎来70周年庆典，并发布了最新的中期经营计划，目标未来3年设备市占率提升至58%以上。

在SEMICON Japan展会上，爱德万测试推出了多项创新测试解决方案，包括晶粒侦测机、宽频及高带宽射频芯片测试卡等，以满足高端存储器、5G、AI和HPC等前瞻应用的需求。

其中，V93000 EXA Scale平台板卡Wave Scale RF20ex备受瞩目，其测试频率范围扩大至100MHz至20GHz，具备2GHz瞬时带宽能力，可实现多站点测试并降低测试成本。

此外，针对第三类半导体故障检测难题，爱德万测试还研发了HA1100晶粒针测机，预计将于2025年第2季量产。

爱德万测试表示，半导体市场已进入复杂性时代，客户对自动化测试设备的要求不断提高。目前，其前三大市场分别为韩国、中国台湾和中国大陆，其中中国台湾地区营收在2024财年第2季较前一季增长8.45%。

此外，爱德万测试还关注Rapidus的2纳米芯片量产进度，期待未来能有更多日本本土客户，以有效分散地缘政治风险。