Pickering发布低漏电流开关模块，助力半导体测试

英国Pickering公司近日推出了面向半导体低漏电流测试的新型开关保护模块，旨在提升WAT晶圆验收测试等应用的精准度。该系列产品基于开关随动保护层设计，提供PXI、PXIe和LXI多种版本，隔离电阻高达1013Ω，确保低漏电流环境下的精确测量。

新款模块包括PXI 40-121系列、PXI/PXIe 40/42-590系列及LXI 65-290系列，覆盖多种开关拓扑结构，满足不同测试需求。模块设计支持loop-thru拓展接口，便于未来系统扩展，可实现高达16x96的矩阵规模，并支持跨机箱扩展。高密度同轴连接器的应用，不仅减小了槽位占用，还提升了连接速度和断开效率。

LXI 65-200平台特别支持预设测试序列的加载与控制，通过软件或硬件触发器执行，有效缩短测试时间，降低系统延迟。Pickering还提供了高品质镀钌舌簧继电器及定制电缆解决方案，确保产品长寿命与易集成。

Pickering Interfaces作为模块化信号开关和仿真产品领域的佼佼者，其产品广泛应用于全球各类测试系统，以卓越可靠性和质量著称。此次发布的低漏电流开关模块，将进一步巩固Pickering在半导体测试领域的领先地位。