N4155A 高速光谱损耗 测量解决方案

N4155A 高速光谱损耗测量解决方案
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将测试成本降至最低、把吞吐量增至最高
是德新型的N4155A高速光谱损耗测量解决方案，专用于光纤布拉格光栅（FBG）和薄膜滤光器（TFF）等波长相关设备以及基于此类设备的光器件的特性描述。它能快速优质完成光谱转移功能的测量：
TFF的光谱特性描述
校准与调整过程优化
FBG写入与光纤递减的过程监控
AWG阵列波长光栅芯片的光学性能，按通道逐个进行
是德N4155A解决方案能满足您的测试要求，具有无与伦比的优点：
速度 实时扫描，不断更新光谱转移功能，从而实现快速校准和滤光器测试。
精确度 新的可调谐激光光源具有卓越性能，使N4155A能达到+ /-1 pm的杰出绝对波长准确度。
能满足未来需求 可以升级的N4155A解决方案以是德处于市场领先地位的光波测量系统为基础，能满足当前和未来的生产测试要求。
灵活性N4155A测试装置的模块，可与光波测量系统的所有构件灵活配置，从而扩展测试能力，满足测试需求。
设置快捷，使用简便 是德光子基础程序库（PFL）提供一系列现成功能，可以快速简便地执行各种特定的测试、作业与分析任务。



备注：
我们的优势：
品种齐全，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
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我公司对销售的仪器仪表均负责保修一年.
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