芯片测试挑战要用数据来破解

在泰瑞达举办的2023媒体沟通会上，泰瑞达亚太区销售副总裁Richard Hsieh表示，芯片测试产业面临着诸多挑战，同时也存在很大的机遇。他指出：“芯片设计越来越复杂，晶体管数量越来越多，测试也越来越复杂；为满足加快上市时间的要求，就要增加同测数，这将导致接口设计变得更加复杂。

他认为，测试产业是一个重资本投资的产业，客户采购时更关心的是投资回报，只有机台能够测得更多，才能提高利用率。因此，怎样在复杂的情况下顺利推 出产品，赢得比竞争对手更快的时间，能够获得前期利润，是摆在芯片制造企业和测试设备企业面前的巨大挑战。

他补充说：“涉及高阶制程会有很多测试数据，如何分析、应用这些测试数据，提升芯片的设计质量和量产良率，这是另一个不容忽视的挑战。”

据他介绍，泰瑞达的一些客户现在还在使用90年代推出的机台，而泰瑞达的新产品也是层出不穷，比如现在的数据分析功能，能够从始至终帮助行业实现降本增效、协同创新，为客户创造价值，助力客户获得成功。

数据分析对测试有多重要？

泰瑞达中国区总经理Felix Huang在分享先进节点下汽车芯片所面临的挑战与应对良策时，特别提到了数据在测试中的重要性。他指出，对于芯片测试来说，在开始阶段就需要制定测试策略和测试项目；在实施阶段，一定要确保大代码量的测试程序不出现额外的问题，以保证芯片的安全和高质量；还要有强大的数据分析能力。在这些方面，泰瑞达可以提供全线的解决方案。”

他说，为了缩短上市时间，要从芯片设计开始就考虑芯片测试，甚至是系统级测试。因为一些复杂测试项目是ATE所无法覆盖的，或者是成本太高，需要采用系统级测试（System Level Test，SLT）。为此，泰瑞达开发了一个可以连接EDA的软件工具PortBridge，可以连接EDA工具和ATE测试机，设计人员通过PortBridge收集测试数据，将分析结果反馈给Fab，从早期阶段介入帮助Fab厂商提高良率，实现顺利生产。

他特别指出，要达到零缺陷，除了考虑测试策略和流程，还需要考虑用什么样的工具来支撑。而使用可靠的工具进行实时性、可预测性、智能性的分析至关重要。

“重要的事情要说三遍：数据、数据、数据。数据是实现汽车质量的重要途径。从前到后，背后流动的是大数据，海量数据才能支撑达到0 DPPM。”他强调。

他解释说，在ATE测试晶圆之后，通过UltraEDGE服务器中的FDE Fault Detect Engine工具，能够对大量数据进行质量和数据统计，也可以运行第三方数据分析软件，如OptimalPlus、PDF数据管理软件等，通过加密和机器学习来分析原始数据，之后形成晶圆图，显示出哪些Die可以通过，哪些Die是失效的，从而发现一些潜在的缺陷。将这些数据反馈给代工厂，调整工艺参数，就可以优化工艺流程，最终提升良率，降低成本。

Felix Huang总结道：“测试一定要定义好测试策略，包括芯片早期调试软件和工具，如PortBridge等。在开发和发布流程中，使用ATE行业中最好的开发软件IG-XL、能够检测开发代码质量的Oasis，以及全自动化全流程管理系统DevOps，以保证测试程序的质量可靠；与此同时，利用强大的数据分析软件分析从前到后的数据也非常重要，这样才能实现测试的零缺陷。”