TEK 泰克 TDS8200 /CSA8200 示波器

TEK泰克TDS8200/CSA8200示波器 何S：15889300166

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何S：:15889300166/13510500080 V同
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泰克tektronix TDS8200产品简介
取样示波器的详细资料为实现最精确的结果，可以使用8200系列作为新兴高速计算机和通信电接口
和光接口信号检定和一致性测试的黄金参考标准: SATA III 2x PCI Express 基于IEEE的标准: 50 Mb/s -
12.5 Gb/s 型号带宽 采样速率 记录长度通道数量 CSA8200 12.5 GHz to 70 GHz 200 kS/s （顺序采样）4kB最多8个 TDS8200 12.5 GHz to 70 GHz200 kS/s （顺序采样）4 kB最多8个查看更多详细信息 产品资料.

主要特点和优点 DC 到 70+ GHz*1 的带宽 业内领先的时基精度 模块化结构，最多八条采集通道 高级抖动、噪声和BER分析 高性能TDR/TDT *1 带宽取决于插件模块，在将来提供更高速度的模块时，带宽可能会超过70 GHz。

DSA8200采样示波器概述
功能
优点
最多4个真实差分通道 利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备，如放大器。
高带宽（50 GHz）时域反射仪 以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
光学模块噪声低，光学灵敏度高，拥有消光比校准功能及宽波长。 通过一个光学测试解决方案，满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。
IConnect? 信号完整性 利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
串行数据网络分析 (SDNA) 通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动，确保可靠的系统运行。
串行数据链路分析 (SDLA) 通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置最大化接收器的眼睁时间。
远程采样头 通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。TDS7104 泰克TDS7104示波器



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