提升高功率器件测试效率，思达科技推出On-Wafer测试解决方案

来源:半导体行业观察发布时间:2023-08-081604浏览

近几年，由于电能使用效率的需求兴起，高功率器件的需求出现爆炸性成长。通过On-Wafer测试（On-Wafer Test），制造商可以加快功率器件的开发及特性验证。半导体测试系统供应商-思达科技，所推出的高功率测试探针台，满足了On-Wafer高电压和高电流的测试应用。

Magic-A系列高功率探测解决方案

Magic系列高功率解决方案，是专为On-Wafer器件测试而设计，支持大电流最高至3kV（三轴）、10KV（同轴）、大电流脉冲应用最高至300/600A。手动、半自动、全自动的探针台系列选项，可符合不同的测试预算和需求。

思达Magic A系列与P系列高电压探针台系统，能使标准的探针台更易于配置与工程化，在低噪声、阻隔电磁波干扰/光的屏蔽环境下，提供精准且可信赖的测量结果。高功率探测解决方案，配备先进的线性空气探针座（手动选项）或闭环XYZθ探针座（半自动或全自动探针台），在-60至300摄氏度的宽温度测试范围，提供优异的步进（Stepping）精准度。