4155C-半导体参数分析仪Agilent4155c

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Keysight/4155C/半导体参数分析仪
Keysight/4155C/半导体参数分析仪
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半导体参数分析仪/Keysight缩略图
详细资料：
4155C 半导体参数分析仪

4155c半导体测试仪是Agilent下一代精密半导体测试仪。4155c是描述高级器件的低成本、实验室级的参数测试仪。4155c低的电流、电压精度和内置的准静态CV测量能力提供了未来扩展的基础。41501B可扩展测量能力到1A/200V，还可以在4155c上增加低的噪声双脉冲发生器。
4155c提供了基于PC的参数分析和表征全套方案的环境。标准配置包括一个参数分析仪，Agilent I/CV 3.0 Lite 自动测试软件，运行Windows XP 操作系统的PC。I/CV 3.0 Lite 提供一个图形用户界面，具有强大的分析工具，探针驱动和自动测试工具。
特性
· 4155c提供4个内置的源/监控单元（MPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（ VMUs）
· 10 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新的工艺技术和评价材料
· Performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements
· 完成准静态的电容对电压测量
· 自动提取程序参数而不需要人工操作屏幕光标
· 用超低的SMUs测量泄漏特性。
· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征。
· 用内置的应力测量模式完成晶片的可靠性测试
· 用图形用户界面实现“点击”测试
· Windows环境提供图形数据分析能力
· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。
· 待机模式消除外部电源的需要
· 触发模式可以同步AC/DC测试
· IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。

备注：
本公司十年专业销售、租赁、维修、回收二手仪器，货源广阔，绝大部分直接从国外引进，成色新，价格低，
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