突发！KLA明起停止中国服务

来源:芯榜+发布时间:2022-10-11814浏览

10月11日，路透社援引消息人士报道，美国芯片工具制造商科磊（KLA Corp）从周三（12日）起停止向中国大陆企业客户提供销售和服务，以符合美国政府最近的规定。

科磊在中国员工收到了KLA法务部的一封电子邮件，称从当地时间周二晚上11:59起，公司将停止向中国“先进芯片厂”销售和服务128层及以上NAND芯片、18nm及以下DRAM芯片和先进逻辑芯片的技术。

据了解，另外两家头部大厂Lam和AMAT的工作人员已经或即将从大陆几家大型晶圆厂离开，包括几家晶圆代工厂和两家主要存储器晶圆厂。
截至发稿前，上述公司均未置评。

另外，KLA公司还将停止向英特尔和全球第二大内存芯片制造商SK海力士旗下的中国芯片工厂供货。对此，SK海力士重申其立场，将根据新的出口管制规则寻求设备许可，以继续在中国运营其工厂。英特尔没有立即回应置评请求。
根据科磊（KLA Corp）的财务文件显示，中国是科磊（KLA Corp）最大的地域市场，在截至 6 月的上一财年中，销售额为 26.6 亿美元，占其总收入的近 30%。
根据美国新法规，中国芯片制造商提供先进制造设备的使用美国芯片工具制造公司必须首先获得美国商务部的许可。

美国KLA独霸半导体检测设备市场

检测设备贯穿每一步骤的过程工艺控制，全球市场空间超百亿美元

半导体量检测设备主要用于在半导体制造过程中检测芯片性能与缺陷。几乎每一步主要工艺完成后都需要在整个生产过程中进行实时的监测，以确保产品质量的可控性，对保证产品质量起到关键性的作用。前道量检测设备注重过程工艺监控，几乎运用在每一道制造工序中。

根据功能的不同分为两种设备：一是量测类，二是缺陷检测类。1）量测类设备：主要用来测量透明薄膜厚度、不透明薄膜厚度、膜应力、掺杂浓度、关键尺寸、套准精度等指标，对应的设备分为椭偏仪、四探针、原子力显微镜、CD-SEM、OCD 设备、薄膜量测等。2）缺陷检测类设备：用来检测晶圆表面的缺陷，分为明/暗场光学图形图片缺陷检测设备、无图形表面检测设备、宏观缺陷检测设备等。