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来源:中科院半导体所发布时间:2022-06-201016浏览
询问 AI

图1:希腊科学家对拉斐尔的名画进行了结构评估,从图中可以看到,画上的缺陷可通过干涉条纹的异常分布清楚地可视化呈现。(该项目与雅典国家美术馆合作)
图源:Light: Advanced Manufacturing (2022)3:18(Fig.1)
近年来,科研人员发展了一些无损检测技术来帮助检测文物的内部结构、材料成分和表面,如X射线,拉曼光谱,超声波,太赫兹波,红外技术等,然而这些技术的发展总受制于穿透性或分辨率。
光的干涉是光波在空间的叠加,表现为明暗相间的条纹分布。明暗分布的干涉条纹存在于我们的日常生活中,如光照下彩色的肥皂泡。
工业应用上,干涉条纹对于测量微小变形具有重要意义。通过测量两束光交汇产生的干涉条纹,计算两束光的光程差,得到两束波的相对相位关系,从而可以分析物体的长度和形状等结构信息。如今,干涉测量凭借高精度、无损等优势,已经被广泛应用在工业、航空、医疗等领域。
全息摄影不同于二维图像的照相方法,全息干涉测量借助一束相干的参考光,获得物体波阵面的干涉信息,通过记录物光和参考光的光程差,以获取物体表面光波的振幅和相位,从而可以得到物体的三维图像,评估物体的微小变形和结构。目前基于全息干涉测量的诊断方法一般直接分析干涉条纹的形态,然而干涉条纹的信息挖掘是很困难的。虽然大量实验室都在通过优化软硬件来挖掘干涉条纹中的信息,但目前仍没有有效的方法对干涉条纹进行充分的处理、挖掘和信息解读。
近日,来自希腊 IESL /FORTH 的 Vivi Tornari 教授提出了⼀种交互式的干涉条纹信息推理方法分割和识别艺术品的缺陷,从而定量地诊断艺术品缺陷的风险情况。
该成果以题“A symmetry concept and significance of fringe patterns as a direct diagnostic tool in artwork conservation”发表在 Light: Advanced Manufacturing。
在测量中,作者施加了瞬态的均匀热负荷到物体表面,随着热负荷被艺术品吸收,内部结构的不同深度的结构发生微小形变,同时随着热的传递,不同时间的干涉测量可以看到缺陷对不同深度层的影响。因此,干涉图上缺陷影响的时间越长,该缺陷的深度越深。
作者测量了带有一块已知缺陷(位于表面下方 5 mm)的样品进行测量,结果如图 2 所示,作者统计了整体和缺陷区域的在 x 轴方向上的平均条纹密度(单位 cm 的条纹数),结果显示艺术品的缺陷在瞬态热激发后的 0~180 秒内,整体和缺陷区域的干涉条纹密度可以被较好地区分。


图4:从干涉条纹图中提取缺陷的自动检测工具图源:Light: Advanced Manufacturing (2022)3:18(Fig.14)论文信息
Tornari. Light: Advanced Manufacturing (2022)3:18编辑:薛定谔的薛定谔

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