中文应用笔记《AN3899-使用53100A相位噪声分析仪进行UHF和微波测量》

使用53100A相位噪声
分析仪进行
UHF和微波测量

简介

虽然Microchip 53100A相位噪声分析仪设计为用于检定要求最严苛的HF和VHF信号源，但许多应用要求在更高载波频率下具有类似的测量能力。本应用笔记将探讨如何利用53100A领先于同类产品的性能和易用性，在载波频率远超过其200 MHz规范限制时执行准确测量。 

本演示中将使用53100A检定三个信号源：1 GHz下的压控SAW振荡器（VCSO）、11.4 GHz下的介质谐振振荡器 （DRO）和18 GHz下的商用信号发生器。将以最少的额外设备和操作工作量测量相位噪声、 AM噪声、积分抖动和频率稳定性等参数。

主要内容

分频

• 2.1 用分频器测量1 GHz VCSO

• 用两个分频器测量1 GHz VCSO

下变频

• 下变频硬件设置

• 使用外部混频器和本机振荡器测量1 GHz VCSO

• 稳定性测量结果

• 下变频噪声测量

• 更高频率下的测量
  

总结

我们结合使用Microchip 53100A相位噪声分析仪和现成的外部模块和组件，演示了如何检定高达18 GHz及更高频率的高质量信号源。相关策略包括使用分频器IC来经济地测量接近噪声和外差下变频，用于必须在宽偏移频率范围内测量低电平相位噪声和AM噪声的应用。 

对于要求最严苛的应用，我们展示了如何通过53100A的多通道互相关功能来充分利用分频和下变频方法。借助本文介绍的策略，53100A的所有功能（从高精度频率测量、趋势分析和偏差统计到相位噪声、AM噪声和积分抖动）现在都可以在UHF/微波频谱中使用。

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