中科院合肥物质科学研究院研制出BGA芯片外观检测设备
来源:西农落发布时间:2022-03-24844浏览
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集微网消息,近期,中国科学院合肥物质科学研究院智能机械研究所仿生智能中心在自主开发的软件平台上实现了3D视觉测量、视觉缺陷检测等技术的融合,解决了国内首款国产GPU——凌久GP102的外观检测问题。合肥物质科学研究院消息显示,目前首台具有自主知识产权的BGA芯片外观检测设备已正式交付并通过验收。
据介绍,科研团队经过半年的产品研发和测试工作,成功研制出具有自主知识产权的BGA芯片外观检测设备A3DOI-BGA,该设备可批量采集芯片的三维图像数据、平面RGB图像数据、激光点云数据等,结合传统及人工智能算法,实现了测量精度、缺陷识别率等各项性能指标的完全达标。(校对/若冰)
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