KLA-Tencor 公司今天针对硬盘驱动器基片与盘片高级缺陷检查推出了 Candela 7100 系列。7100 系列建立在备受肯定且已量产化的 Candela 产品线基础上，专为帮助制造商识别与分类诸如凹陷、凸起、微粒及隐藏缺陷等亚微米级关键缺陷而设计，可以提升良率，降低检测的总成本。
KLA-Tencor 成长与新兴市场 (GEM) 集团副总裁 Jeff Donnelly 表示：“Candela 7100 系列是我们光学表面分析技术的一个创新延伸，作为缺陷检测与分类的创纪录工具，深获客户认同。凭借更高的灵敏度和分类能力，7100 系列的一体化解决方案旨在减少对其它工具的依赖性，降低我们客户的成本，并缩短他们获得成果的时间。”
表面积（储存单位）密度的持续增长推动了对更低表面污染水平、更平滑的磁盘表面、对更小缺陷尺寸的更强灵敏度的需求，以及提早在制程中控制特定缺陷类型的重要性。此外，随着磁记录头飞行高度的降低，微小缺陷如今对良率的影响也越来越大。Candela 7100 系列拥有业界领先的灵敏度，堪为应对这些业界挑战的理想解决方案。
硬盘驱动器行业要不断满足客户对更高性价比的需求，因此制造商必须要以更快的时间获得成果，采取在统计学上更有效的决策，同时保持成本竞争优势。Candela 7100 降低了对众多非生产工具与方法的依赖性，例如原子力、扫描电子与透射电子显微镜，以及电性测试。目前需要在众多检测工具上进行的分析，现在都可在单独一台机器上以更快的速度和更低的成本完成。
Candela 7100 系列正在接受领先存储技术公司日立环球存储技术公司 (HGST) 的认证。
KLA-Tencor 目前正在接受产品订单。出货计划在十月份开始。
9 月 17-18 日在加州圣克拉拉市县圣克拉拉会展中心举行的 DISKCON USA 2008 展览会上，KLA-Tencor 还将在第 115 号展位展出 Candela 7100 系列，以及为数据存储行业提供的其它良率管理解决方案。
