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来源:21ic测试测量发布时间:2013-05-1571浏览
询问 AI近日,美国国家仪器公司NI就目前最新测试测量技术和方法,发布了《2012年自动化测试趋势展望》。该趋势报告以数据为基础,对影响当前和未来的电子行业的商业策略、架构等进行了探讨。对消费电子产品、汽车、半导体,航空航天与国防、医疗设备以及通讯等行业影响进行了解析。
该趋势报告由商业战略、架构、计算、软件和I/O当5个类别以及2012年自动化测试主要趋势等内容构成。尤其是新兴的移动设备改变行业架构等未来发展趋势。在该报告中提出了未来测试组织优化趋势,即各个组织将测试工程视为战略资产以获得优势。同时未来还将复杂模型与真实测量集合,以有力推动开发。PCI Express外部接口则会以高速、低延迟PC内部总线拥有新的系统拓扑结构。报告中还着重强调了,现代移动设备的快速普及,如智能手机和平板电脑的普及等,对测试系统控制和监测方式的影响。
该报告由NI测试行业领导委员会编写,主要促进测试行业交流以及技术创新,对用户提供最佳的测量测试方法。
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