泰克全自动SATA一致性测试套件

　　泰克日前推出新的TekExpress™一致性自动测试平台和新的TekExpress SATA自动一致性测试软件。TekExpress SATA在TekExpress平台上运行，利用经过认证的泰克串行数据高性能仪器套件，对接收机、发射机和互连百分之百地自动执行SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性测试。TekExpress一致性自动测试平台是为单键自动测试高速串行标准开发的，TekExpress平台基于National Instruments的TestStand之上，后者作为序列控制引擎使用。
 
　　TekExpress SATA使用运行Windows XP的计算机就可进行控制，可以有效执行SATA-IO工作组认证的实现方法(MOI)要求的153项SATA Gen-2测试。TekExpress SATA软件协调仪器设置和控制序列，为全部4个SATA-IO批准的实现方法（MOI）提供完整的认证测试结果，所需总测试时间不到3个小时，使一致性测试时间降低了约70%。

　　第二代串行数据总线结构，包括SATA Gen-2，提供的吞吐量比几年前高出了一个量级。数据速率性能的加速，大大提高了设计工作的挑战性，增加了设计的复杂性，从而可能会阻碍产品开发周期，提高开发成本。因此，工程师们需要强大的测试工具和软件，实现更高的性能、更全面的分析及更高的测试效率。泰克新推出的TekExpress SATA自动一致性测试套件可以实现无人值守SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性测试，帮助客户简化测试操作。

　　“为满足SATA Gen-2规范，测试工程师们需要执行100多项测试。”泰克公司超高性能仪器副总裁Lynne Camp说，“测试复杂性不断提高、多台仪器操作、测量效率和速度需求，这一切都给广大客户带来了明显的挑战。客户一直希望泰克提供简单、完整、高效的SATA II自动一致性测试套件。TekExpress SATA满足了这些客户的要求。”

　　TekExpress SATA一致性测试模块分成“主机/设备”模块和“电缆”模块。前者要求六个模块，后者要求一个模块。对于主机/设备，自动测试模块包括：物理层(PHY)；发射机信令组(TSG)；带外(OOB)；接收机信令组(RSG)；接收机余量(RMT)；发送和接收(Tx/Rx)。对于电缆，有一个额外的电缆信号完整性(SI)模块。可以从任何Windows XP计算机上执行SATA MOI。

　　在使用传统测试方法时，客户一般需要8个小时以上的时间，循环执行要求的SATA Gen-2一致性测试，这是一个特别耗时的过程，如果遇到一个错误，就必需重新执行测试。通过使用TekExpress SATA，用户不需要干预就可以执行整个SATA Gen-2一致性测试，只需几个小时就可以提供完整的测试结果。

　　TekExpress SATA一致性测试要求的设备包括高带宽实时示波器(DSA70000系列数字串行分析仪)、高速串行信号发生器(AWG7102任意波形发生器)和高带宽采样示波器(DSA8200系列数字串行分析仪)。泰克DSA示波器和AWG信号发生器为测试各代SATA设备提供了所需的性能，包括规划中的预计运行速率将达到6 Gb/sec的SATA Gen-3规范。

　　NI TestStand是随时可以投入运行的测试管理环境，简化了测试和验证系统的自动操作功能。TestStand与TekExpress相结合，可以开发、管理和执行SATA Gen-2一致性测试以外的其它测试序列。

　　目前泰克已经提供了RSG模块，为TSG/PHY/OOB模块提供预发布版本。其它SATA模块预计将在2008年第二季度底提供。