大量均匀分布几何元素的快速测量方法

在测量中，高级复制功能有3种操作可供选择：平移复制、旋转复制和镜像复制。下面依次说明如何使用这些功能。

一、平移复制

当大量同类型基元规则的平行分布时，可以使用平移复制来完成测量。

举例说明：如图1所示的工件，需要测量5行6列所有完整的圆，已知圆与圆之间等距(圆心距离：X=3mm，Y=3mm），那么可依据以下步骤快速编程来进行测量。

图1 工件图像

1. 先测量左上方第一个圆（图2中桔黄色的圆圈标注），接着利用平移复制功能向右复制5个圆、向下复制4个圆；

2. 在第一个基元上点击右键，选择菜单中的“复制基元”，出现如图2所示窗口；

图2 准备复制

3. 在复制窗口中置X平移为“3mm”(圆间X轴距离)，复制个数填写“5”，按确认后，图中第一个圆右方将标出5个圆（如图3所示）；

图3 复制X向基元

4. 选中这六个圆后再进行复制，并在复制窗口内的Y输入“3”，复制个数输入“4”，点击“确认”，将出现图4所示；

图4 复制Y向基元

此时，软件程序已经在编程窗口建立了测量流程，只需点击任务控制区的“运行”按钮，计算机将自动测量所有的圆并显示出测量结果。

二、旋转复制

当工件上同类基元以相同的角度规则分布时，则可以利用旋转复制快速的测量。

举例说明：如图5所示，需要测量图像上的4个圆。

首先提取中心圆，以圆心为原点建立坐标系；

图5 建立坐标系

1. 提取一个要测量的圆，如图6；

图6 提取圆

2. 在该圆上点击右键，选择“基元复制”，并选中“旋转复制”，输入旋转角度90度，复制个数3个；得到图8所示基元，便可以开始自动测量了。[page]

图7 输入数值

图8 得到基元

三、镜像复制

当工件中一部分基元与另一部分基元呈镜像分布时，可以用镜像复制的方法进行测量。镜像的对称轴可以选择X轴、Y轴，也可指定一条直线。

举例说明：

首先对称轴上的两个圆，构建对称中心直线；

图9 构建对称中心直线

1.提取对称轴一侧的所有基元；

图10 提取基元

2.选中对称轴一侧的所有基元，点击右键，选择菜单中的“基元复制”，选择对话框中的“镜像复制”，复制方式为“指定直线”，选择对称轴直线（这里为直线11）；得到图12所示的复制结果后，计算机将自动进行测量并显示出测量结果。

图11 基元复制

图12 复制结果