使用示波器进行EMI诊断

数字示波器具备极低的输入噪声，在0-4GHz全带宽范围内，灵敏度可以达到1mv/div。RTO实时FFT频谱分析能力，配合近场探头分析诊断EMI问题。

EMI诊断的关键是FFT技术。传统示波器的FFT功能，在频域进行参数设置很困难，并且频谱分析需要很长的时间。由于R&S RTO示波器的FFT操作界面是基于频谱分析仪的，因此用户可以像使用频谱分析仪一样，直接设置参数，包括起始频率，截止频率，带宽分辨率和探测器类型。

强大的FFT技术配合RTO示波器的大存储深度，使得用户可以独立设置时域和频域参数，灵活的在时域和频域进行分析。这些功能使得用户可以尽快发现辐射干扰源。

R&S RTO示波器使用Overlap FFT进行频域分析。重叠FFT技术可以实现对杂散辐射的高灵敏度，能够捕获到偶发杂散频点。示波器首先将被捕获的时域信号分割成若干个时间段，然后分别进行FFT计算得到每一个时间段的频谱，这样能在频谱中捕获到低能量的偶发杂散信号。

然后，对出现频率不同的信号标注以不同的颜色，所有时间段FFT分析频谱组合成完整的频谱。

辐射与偶发的辐射会以标注不同的颜色进行区分。使用不同颜色标示技术的频谱分析能够完美的展示出EMI辐射出现的类型和频率。

加窗FFT技术使用户可以通过在被捕获的信号上自定义一个时间窗口，仅对时间窗口内的信号进行FFT分析，并且通过滑动这个窗口，分析出每一段时域信号与频谱的对应关系。例如，可以使用该技术分析由于开关电源的晶体管过冲导致的EMI问题。确认问题点之后，用户可以迅速对整改后的效果进行验证。

在分析杂散的辐射问题时，模板工具也非常有效。用户在频域定义模板，并对违规信号做相应的设置，这样就可以准确地判断是哪些信号造成了频谱违规。甚至对已经捕获的信号，用户也可以调整FFT参数，例如加窗的大小以及频率分辨率等。如此强大的功能使用户可以对很难捕获到的EMI辐射进行仔细的分析。

R&S RTO示波器凭借其丰富的捕获特性和分析特性，为示波器树立了一个新的标杆。同时，配合以丰富的附件，例如R&S HZ-15近场探头，提供了一整套完善的EMI诊断方案。

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Fig: R&S RTO数字示波器 —— 低噪声前端/高性能FFT铸造出强大的EMI诊断工具