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来源:现代电子技术发布时间:2012-06-15718浏览
询问 AI摘要:针对大型构件内部微损伤难以及时发现排除,给生活生产造成安全隐患的现状,基于波包提取技术,利用波包的虚拟时间逆传播,设计了一种新的传感器阵列,并在理论上推导了该传感器阵列二维成像的运算公式,最后利用MATLAB编程模拟仿真了用该传感器阵列进行无损检测时的二维成像结果,结果表明其成像结果的综合精度可以达到98.7%,因此用该传感器阵列进行大型构件内部微损伤的探测对于发现安全隐患、排除安全隐患具有重大的指导意义。
关键词:无损检测;时间反演;传感器阵列;波包提取
近年来,利用电磁波及超声波进行复杂构件的内部损伤探测、评估安全性能及判断使用寿命是科研工作者感兴趣的一个课题。Lamb波是应用于该领域的一种常见电磁波。Horace在1917年发现了Lamb波,Worlton在1961年将Lamb波应用于无损检测,随后,Lamb波的性质及在不同介质中的传输特性受到广大科学工作者的关注。Lamb波应用于无损检测的机理被无数科研工作者检验。在无损检测中超声波是另一种被广泛关注的波形,石立华等人对Mallat提出的匹配追踪法进行简化,提出了基于波包提取的小波建模法,在使用电时域反射法对结构进行损伤反射定位仿真上取得了良好的效果。Demirli、Saniie等人也用一种相似的建模方法来判断超声反射回波。从理论上和实验上验证了波包提取的有效性。
复杂构件内部成像技术的日趋成熟,促进了传感器及传感器阵列的发展。目前Ultrasonic probe、LBU(laserbasedl ultrasonics)、PZT(Piezoelectric lead zirconate titanateelements deliver)、Interdigital transducer、Optical fibre被广泛应用于无损检测中用来激励和采集信号。SMART Layer和HELP Layer是目前比较著名的两种传感器阵列。但两者均因昂贵的造价和使用动力的限制使得其不可能被大批量生产应用。因此,立足于日趋成熟的构件内部成像技术及传感器器材,设计可以批量化生产的传感器阵列具有十分重要的意义。
1 波包提取
采用WDT分析检测信号的基本思想是采用输入波包作为描述检测信号的基本单元,不同位置和尺度上输入波包的组合构成一种对检测信号的逼近。如果把输入波包当做基波包,则被检测信号可看做是有不同时延、尺度、大小基波包的组合。
根据这一思想,检测信号x(t)可以用N个时延时τi(i=1,2,3,…,N)刻的基波包h(t)的N个变形h(t)(hi(t))=h(t-τi)逼近,如式(1)所示。
图1是一个检测信号波包提取示意图。x(t)是原始检测信号,按照到达时间的先后提取出5个基本波包,记作h1(t)~h5(t)。每个波包除幅度ai不同外,基本形式与输入信号波包h(t)相似,可近似表示如式(6):
在对构件进行探测时,仅考虑平面目标。假定探测器进行探测时置于探测物体的某一特定位置(如物体的左下角),则整个探测区域可以根据探测器的位置由以A、B为垂足,垂直于坐标轴的两条虚线划分为4个区域,如图3所示。损伤点在每个区域的位置与探测器位置的关系如图3所示。在每一个区域内,损伤点和探测器的位置关系都遵循一定的几何关系,根据这种几何关系,可以精确定位损伤点的位置。
2.2 物体中波速的测定
用传感器O发射,传感器A、B同时开始接收,记每次测量从传感器O发射到传感器A、B接收的时间差分别为△τ1i,△τ2i(i=1,2,…,N)则在物体中的波速用式(8)计算:
因此,对于任一损伤点,如图4所示,分别以O、A、B为圆心,OP、AP、BP为半径做圆,则损伤点所在位置是3个圆的焦点。损伤点P的位置满足式(9):
在模型中,所用传感器直径为20 mm,选用上文作为激励信号,频率为100 kHz。为了避免产生边界干扰,模型侧面都定为无限边界。
图6为传感器组阵列O、A、B各自接收到的检测信号,根据时延,分别对3个检测信号进行波包提取。各传感器接收到的检测信号的波包提取时延及波包分布图如图7所示。
根据提取的波包,以各传感器为圆心,反射后波包的传播距离为半径进行损伤点的定位成像,则定位的损伤点的位置分别为(0.493 5 m,0.197 8 m),(0.690 9 m,0.297 m)。其成像精度约为98.7%。模拟成像结果如图8所示。
4 结论
基于波包提取技术,考虑同一激励脉冲波形经损伤点反射后被不同位置上的传感器采集后的不同情形,对各个检测波形进行波包提取后根据时延进行虚拟反传递。从而精确定位损伤点的准确位置并进行成像。由于其成像分辨率只依赖于采样点频率和算法精度。因此从模拟仿真的结果来看,用该方法进行成像可以获得高分辨率。但仿真的条件过于理想化,因此该方法有待于进一步用实验进行检验。
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